研究設備
 透過型電子顕微鏡 (TEM, JEM-2100) |
 透過型電子顕微鏡 (FE-TEM, JEM-3000F) |
 走査型電子顕微鏡 (SEM, JSM-6510LV) |
 走査型電子顕微鏡 (SEM, JSM-6010LA) |
 複合ビーム加工観察装置 |
 原子間力顕微鏡 (AFM, MFP-3D) |
 X線光電子分光装置 (XPS, ESCA-1600R) |
 粉末X線回折装置 (XRD, RINT2500) |
 MALDI-TOF-MS (KRATOS AXIMA-CFR+) |
 円二色性測定装置 (CD, J-820) |
 GC/MS (JMS-GC mate IIR) |
 フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR, 6600plus) |
 紫外可視分光光度計 (UV-Vis, UV-3100) |
 蛍光分光光度計 (F-4500) |
 HPLC (L-2130, L-2400, D-2500) |
 HPLC (L-2130, L-2400, D-2500) |
 HPLC (GL-7410, GL-7450, D-2500) |
 電気炉 (FO100) |
 低温インキュベーター (FMU-0531) |
 凍結乾燥機 (DC400) |
 遠心分離機 (2420) |
 卓上微量高速遠心分離機 (CT15E) |
 精密天秤 (GR-200) |
 UV/O3洗浄改質装置 (SKb1101N-01 |
