粉末X線回折装置
RINT2500(リガク)
試料にX線を照射して、その回折パターンから物質の結晶構造を解析することができます。
小角X線散乱装置
RINT2500 Nano-Viewer(リガク)
試料にX線を照射して散乱するX線を測定することで、微粒子や液晶物質などのナノサイズの構造を解析することができます。
RINT2500(リガク)
試料にX線を照射して、その回折パターンから物質の結晶構造を解析することができます。
RINT2500 Nano-Viewer(リガク)
試料にX線を照射して散乱するX線を測定することで、微粒子や液晶物質などのナノサイズの構造を解析することができます。