透過型電子顕微鏡

JEM-2100（日本電子）
目安倍率ｘ60～150万、電子エネルギー損失分光分析装置付属。
原子レベルでの構造を観察することができます。

電界放出型透過型電子顕微鏡

JEM-3000F（日本電子）
目安倍率ｘ60～120万、元素分析装置付属。
ナノメートルでの元素分析も可能なTEMです。